Infineon Technologies Carte d'évaluation Eval-1ED3144MC12H-SiC
Infineon Technologies Eval-1ED3144MC12H-SiC carte d'évaluation permet la démonstration du CI pilote de grille isolé EiceDRIVER™ 1ED3144MC12H dans une configuration de demi-pont. La carte peut être utilisée pour évaluer d’autres CI au brochage compatible de la famille de CI pilote de grille EiceDRIVER 1ED314xMC12H en remplaçant les CI pilote de grille.
La carte d'évaluation Eval-1ED3144MC12H-SiC d'Infineon est livrée avec deux MOSFET à tranchée SiC 1 200 V CoolSiC™ IMZA120R020M1H non assemblés dans un boîtier TO247-4. Tout autre commutateur souhaité, comme les IGBTs, les transistors CoolSiC ou CoolMOS™ peuvent remplacer ces commutateurs.
Caractéristiques
- Tension d'alimentation maximale absolue de sortie de 35 V
- Courant de sortie standard de 6,5 A
- UVLO de sortie référencé à la broche GND2 pour une protection optimale avec les tensions d'alimentation bipolaires
- Arrêt actif
- Immunité transitoire en mode commun très élevée CMTI >300 kV/us
- Retard de propagation standard de 40 ns
- Correspondance serrée du retard de propagation CI-à-CI
- Tension d'alimentation d'entrée de 3,3 V et 5 V
- Boîtier à corps large PG-LDSO-8 avec distance de fuite >8 mm
- Certification de sécurité du pilote de grille :
- Reconnu UL 1577 avec ViSo,test = 6 840 V (rms) pendant 1 s, Viso = 5 700 V (rms) pendant 60 s
- Isolation renforcée conformément à la norme CEI 60747-17 avec VIORM = 1 767 V (prévu)
Applications
- Convertisseurs photovoltaïques (PV)
- Stockage d’énergie et chargement de batterie
- Alimentations sans interruption (ASI)
- Alimentations électriques en mode commutateur (SMPS)
- Entraînements industriels
- Applications médicales
Contenu du kit
- Carte d'évaluation Eval-1ED3144MC12H-SiC
- Deux MOSFET à tranchée SiC 1 200 V CoolSiC™ IMZA120R020M1H pour l'assemblage
MOSFET associés
Infineon Technologies MOSFET à tranchée SIC CoolSiC™ 1200 V
Optimisé pour fournir les pertes les plus faibles dans les applications et la plus haute fiabilité en fonctionnement.
Carte d'évaluation
Infineon Technologies Carte d'évaluation EVAL-DCLINK-DPT
Prend en charge les tests à double impulsion (DPT) des dispositifs semiconducteurs de puissance tels que les IGBTs et les MOSFET SiC.
Schéma fonctionnel
Publié le: 2026-01-28
| Mis à jour le: 2026-02-02