Texas Instruments Diode de protection unidirectionnelle contre les surtensions TSM24B
La diode de protection unidirectionnelle contre les surtensions TSM24B de Texas Instruments permet de dériver jusqu’à 20 A de courant de défaut CEI 61000-4-5 pour protéger les systèmes contre les transitoires de haute puissance ou la foudre. La TSM24B est conçue pour dissiper les décharges électrostatiques au-delà du niveau maximal spécifié dans la norme internationale CEI 61000-4-2 (contact±30 kV, entrefer ±30 kV). La TSM24B se bloque en cas de surtension, assurant une exposition du système inférieure à 33 V (standard) à IPP = 20 A.
De plus, la TSM24B de Texas Instruments est disponible en petit boîtier SOT-23 (DBZ) plombé, qui est réduit d’environ 50 % par rapport au boîtier SMA standard de l’industrie. Le dispositif est conçu pour avoir un effet minimal sur la ligne protégée en raison d’une fuite extrêmement faible du dispositif.
Caractéristiques
- Protection contre les surtensions robuste
- CEI61000-4-5 (8/20 µs) de 20 A
- Une faible tension de blocage de 33 V (standard) à 20 A pour un courant de surtension de 8/20 µs protège les composants en aval
- Polarité unidirectionnelle pour des performances de blocage optimisées sur les lignes de données asymétriques et les rails d’alimentation
- Tension de fonctionnement de 24 V pour protéger les signaux sur les systèmes 12 V
- Faible courant de fuite de 75 nA (maximum)
- Faible capacité E/S de 24 pF (standard)
- Protection DES CEI 61000-4-2 intégrée
- Décharge par contact : ±30 kV
- Décharge dans l’air de ±30 kV
- Petit boîtier SOT-23 plombé pour minimiser l’espace sur la carte et permettre une inspection optique automatique (AOI)
Applications
- Capteurs industriels
- Contrôleur de réseau de zone (CAN)
- Modules d'E/S PLC
- Lignes d’alimentation de 24 V ou lignes d'entrée ou de sortie numériques
- Appareils
- Équipements médicaux
- Pilotes de moteur
Schéma fonctionnel
Outil de développement associé
Texas Instruments ESDEVM Evaluation Module (EVM)
Comes with all traditional ESD footprints in order to be able to test any number of devices.
Publié le: 2023-12-13
| Mis à jour le: 2023-12-19