Texas Instruments Carte d'évaluation LMQ644A2QEVM
La carte d'évaluation LMQ644A2QEVM Texas Instruments est conçue pour évaluer les convertisseurs CC/CC double buck LMQ644A2-Q1 avec MOSFET de puissance intégrés. Cette carte d'évaluation est une carte de convertisseur Buck synchrone à sortie unique, biphasé, qui fournit 12 A de courant de sortie. La tension de sortie peut être programmée individuellement à une valeur fixe ( 3,3 V et 5 V ) ou être ajustée à l'aide de résistances de rétroaction externes. La carte LMQ644A2QEVM prend en charge des surtension d'entrée jusqu'à 36 V et des baisses jusqu'à 3 V. La fréquence de commutation de ce dispositif est réglable de 100 kHz à 2,2 MHz à l'aide de la broche RT et peut également être synchronisée à une horloge externe pour éliminer les fréquences de battement.
Caractéristiques
- Convertisseur Buck synchrone entrelacé biphasé de 12 A
- Plage de tension d'exploitation large de 6 V à 36 V
- Tensions de sortie de 3,3 V et 5 V
- Fréquence de commutation par défaut de 2,1 MHz
- Évalué pour 6 A par canal
- Haute efficacité sur une large plage de courant de charge
- Filtre EMI d'entrée avec condensateur électrolytique pour amortissement en parallèle (le filtre d'entrée peut gérer jusqu'à 8 A de courant d'entrée)
- La synchronisation de l'horloge et le mode FPWM fournissent une fréquence de commutation constante sur toute la plage de charge.
- Les condensateurs d'entrée intégrés permettent une performance de commutation à faible bruit.
- Spectre étalé sélectionnable par broche
- Architecture de contrôle en mode courant de crête avec compensation de boucle externe
- Limitation des crêtes de courant avec protection contre les surintensité en mode hoquet
- Protection contre coupure thermique avec hystérésis
- Indicateur PGOOD
- UVLO d'entrée programmable
- Conception de carte PC de 2 oz, à 6 couches
Convertisseurs associés
Texas Instruments Convertisseurs CC-CC Buck synchrones 36 V LMQ644xx-Q1
Ces convertisseurs CC-CC sont conçus pour des sorties simples ou doubles à courant élevé.
Configuration du test EVM
Publié le: 2024-06-04
| Mis à jour le: 2024-06-19