Texas Instruments Module d'évaluation LM74930Q1EVM
Le module d'évaluation LM74930Q1EVM de Texas Instruments est conçu pour démontrer rapidement et facilement les performances du contrôleur de diode idéale LM74930-Q1. Le LM74930-Q1 dispose d'un contrôle marche/arrêt du chemin d'alimentation, d'une protection contre les surintensités, les courts-circuits et les surtensions. De plus, l'appareil fournit une large alimentation d'entrée de 4 V à 65 V, permettant la sécurité et le contrôle des calculateurs automobiles alimentés par batterie 12 V et 24 V.
Le LM74930Q1EVM TI montre comment le LM74930-Q1 contrôle deux MOSFET de puissance à canal N dos à dos pour imiter un redresseur à diode idéale avec un limiteur de surtension, un disjoncteur et une protection contre les surtensions.
Caractéristiques
- Fonction de blocage du courant inverse requise pour les applications ORing
- Protection de l'entrée contre l'inversion de la batterie
- Pilote des MOSFET externes à canal N dos à dos dans une configuration source commune
- Protection contre les surtensions contre les transitoires comme le vidage de charge non supprimé 200 V
- Protection réglable contre les surintensités et les courts-circuits
- Sortie de moniteur de courant analogique avec précision de 10 % (IMON)
- Surtension et sous-tension réglables
- Broche MODE pour permettre le flux de courant bidirectionnel (mode = faible)
Applications
- Protection d'inversion de la batterie automobile 12 V/24 V
- Transport industriel
- Alimentation redondante ORing
Caractéristiques techniques
- Plage d'entrée de 4 V à 65 V
- Protection contre les surintensités réglable de 4 A et 6 A à l'aide de cavaliers intégrés
- Minuteur de disjoncteur programmable
- Sortie de surveillance du courant de charge
- Options de tentative automatique et de verrouillage programmables
- LED pour indication de défaut
- Indication LED pour détection marche/arrêt de sortie
Produits associés
Texas Instruments Contrôleur de diode idéale LM74930-Q1
Bouchon de surtension de diode idéale pour automobile avec disjoncteur.
Topologie
Configuration avec équipement de test
Publié le: 2024-01-30
| Mis à jour le: 2024-02-08