Analog Devices EVAL-ADuM3150Z Testplatine
Die Analog Devices EVAL-ADuM3150Z Testplatine hilft bei der Auswertung von ADuM3150ARSZ, ADuM3150BRSZ, ADuM4150ARIZ und ADuM4150BRIZ 6-Kanal SPIsolator®-Isolatoren, die für die Verwendung in SPI-Anwendungen optimiert sind. Sie umfassen zwei Kanäle mit geringer Geschwindigkeit und einem Taktverzögerungskanal für die Umsetzung von 40MHz SPI-Datenübertragungen. Entwickelt unter Verwendung der besten Designpraktiken für Leiterplatten (PCB) für 4-schichtige Platinen, bietet die EVAL-ADuM3150Z eine vollständige Leistungs- und Erdungsebene auf jeder Seite der Isolationsbarriere. Die Funktionen umfassen JEDEC-Standard 20-Pin-SSOP Pad-Layout, Unterstützung für Signalstörung, Loop Back, referenzierte Ladungen für VDDX oder GNDX und optimale Bypass-Kapazität. Entwickler können Signalquellen auf die Platine verdrahten oder durch Rand-montierte SMA-Stecker (separat erhältlich) oder Anschlussklemmen für Stromanschlüsse mit der Platine verbinden.
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