SN74ABT8245 Série Fonctions logiques spécifiques

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 Fab.
Description Fiche technique Disponibilité Prix (EUR) Filtrer les résultats dans le tableau par prix unitaire basé sur votre quantité.
Qté. RoHS Modèle de ECAO Produit
Série
Température de fonctionnement min.
Température de fonctionnement max.
Package/Boîte
Conditionnement
Texas Instruments Fonctions logiques spécifiques Scan Test Device A 5 95-SN74ABT8245DWR A 595-SN74ABT8245DWR
Fiche technique
13En stock
Min. : 1
Mult. : 1

SN74ABT8245 - 40 C + 85 C SOIC-24 Tube
Texas Instruments Fonctions logiques spécifiques Scan Test Devices AL T 595-SN74ABT8245DW ALT 595-SN74ABT8245DW
Fiche technique
Commentaire Produit
75En stock
Min. : 1
Mult. : 1

Boundry Scan JTAG Logic SN74ABT8245 - 40 C + 85 C SOIC-24 Tube
Texas Instruments Fonctions logiques spécifiques Scan Test Device A 5 95-SN74ABT8245DW A 595-SN74ABT8245DW
Fiche technique
Délai de livraison produit non stocké 6 Semaines
Min. : 2.000
Mult. : 2.000
Bobine: 2.000

SN74ABT8245 - 40 C + 85 C SOIC-24 Reel