ScioSense Les plus récent(e)s Outils de développement de circuits intégrés de conversion de données

ScioSense AS6501 Development Kits
ScioSense AS6501 Development Kits
12.13.2022
Allow a quick and intuitive approach to using the AS6501 2-channel time-to-digital converter.
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Analog Devices Inc. Kit d'évaluation EVAL-ADEMA127KTZ
Analog Devices Inc. Kit d'évaluation EVAL-ADEMA127KTZ
12.18.2025
Kit d'évaluation à deux cartes pour les convertisseurs CAN ADEMA124 Σ Δ à 4 canaux et ADEMA127 à 7 canaux.
Analog Devices Inc. Carte d'évaluation EVAL-ADMX6001
Analog Devices Inc. Carte d'évaluation EVAL-ADMX6001
12.11.2025
Doté du CAN haute vitesse 12 bits à faible bruit AD9213 et du CAN de précision AD4080 à 20 bits.
NXP Semiconductors Cartes d'évaluation NAFE33352
NXP Semiconductors Cartes d'évaluation NAFE33352
10.22.2025
Les cartes sont conçues pour tester le NAFE33352, un frontal analogique AIO universel configurable par logiciel.
Texas Instruments Module d'évaluation métrologique ADS131M08MET-EVM
Texas Instruments Module d'évaluation métrologique ADS131M08MET-EVM
10.22.2025
Implémente l'ADS131M08 et le MSPM0G1506SRHB pour effectuer des mesures d'énergies triphasées de classe 0,1.
Texas Instruments Module d'évaluation ADC34RF72EVM
Texas Instruments Module d'évaluation ADC34RF72EVM
10.22.2025
Développé pour démontrer rapidement et facilement la famille de CAN haute vitesse ADC34RF7x.
Silanna Plural™ Evaluation Kits
Silanna Plural™ Evaluation Kits
10.16.2025
Designed to evaluate Plural™ series Analog-to-Digital Converters (ADCs).
Analog Devices Inc. Carte d'évaluation EVAL-AD7091R-8ARDZ
Analog Devices Inc. Carte d'évaluation EVAL-AD7091R-8ARDZ
10.13.2025
Permet une évaluation facile de toutes les fonctionnalités de la famille AD7091R-8 des CAN.
Analog Devices Inc. Kit d'évaluation DAQ EV-ADAQ7769-1FMC1Z
Analog Devices Inc. Kit d'évaluation DAQ EV-ADAQ7769-1FMC1Z
10.01.2025
Le kit permet l'évaluation de l'ADAQ7769-1, une solution DAQ de μModule® 1 Méch/s, 24 bits.
Analog Devices Inc. Blindages SPoE EVAL-10BT1L-MCS IEEE 802.3 cg
Analog Devices Inc. Blindages SPoE EVAL-10BT1L-MCS IEEE 802.3 cg
10.01.2025
Compatibles avec les cartes mères d'évaluation pour dispositif alimenté (PD) et d'équipement source d'alimentation (PSE) SPoE.
Texas Instruments Module d'évaluation ADS131E08EVM-PDK
Texas Instruments Module d'évaluation ADS131E08EVM-PDK
09.23.2025
Conçu pour démontrer facilement le CAN ADS131E08 24 bits, 64 kSPS, 8 canaux, delta-sigma.
Analog Devices Inc. Panneaux d'évaluation EVAL-AD4060-ARDZ et EVAL-AD4062-ARDZ
Analog Devices Inc. Panneaux d'évaluation EVAL-AD4060-ARDZ et EVAL-AD4062-ARDZ
09.03.2025
Permettent une évaluation rapide et facile des performances et des fonctionnalités des CAN AD4060 ou AD4062.
Analog Devices Inc. Carte d'évaluation EVAL-AD4080ARDZ
Analog Devices Inc. Carte d'évaluation EVAL-AD4080ARDZ
09.03.2025
Permet d'évaluer rapidement et facilement les performances et les fonctionnalités des CAN AD4080/AD4081/AD4084.
Analog Devices Inc. Carte d'évaluation EVAL-ADAQ4216-FMCZ
Analog Devices Inc. Carte d'évaluation EVAL-ADAQ4216-FMCZ
08.07.2025
Conçue pour démontrer la performance du SiP d'acquisition de données de précision (DAQ) ADAQ4216.
Analog Devices Inc. Système d'acquisition de données (DAQ) EVAL-CN0561-ARDZ
Analog Devices Inc. Système d'acquisition de données (DAQ) EVAL-CN0561-ARDZ
08.06.2025
Système à quatre canaux, 24 bits, sans repliement et à haute performance, conçu pour l'interface des capteurs IEPE.
Analog Devices Inc. Carte d'évaluation EV-AD74416H-ARDZ
Analog Devices Inc. Carte d'évaluation EV-AD74416H-ARDZ
05.28.2025
Plateforme puissante pour évaluer l’AD74416H dans des scénarios industriels et d’automatisation réels.
Texas Instruments Kit de démonstration de performance ADC168M102REVM-PDK
Texas Instruments Kit de démonstration de performance ADC168M102REVM-PDK
04.23.2025
Conçu pour évaluer les performances de l'ADC168M102R-SEP, un CAN 1 MSPS de 16 bits et à 8 canaux.
Analog Devices Inc. Cartes d'évaluation EVAL-AD5781ARDZ/EVAL-AD5791ARDZ
Analog Devices Inc. Cartes d'évaluation EVAL-AD5781ARDZ/EVAL-AD5791ARDZ
03.26.2025
Permet un prototypage rapide des circuits AD5781 et AD5791, réduisant ainsi le temps de conception.
Analog Devices Inc. Carte d'évaluation EVAL-AD3530RARDZ
Analog Devices Inc. Carte d'évaluation EVAL-AD3530RARDZ
03.26.2025
Basée sur les convertisseurs numériques-analogiques (CNA) à 8 canaux et sortie de tension 16 bits, AD3530/AD3530R
Analog Devices Inc. cartes EV-ADAQ4370, EV-ADAQ4380, etEV-ADAQ4381
Analog Devices Inc. cartes EV-ADAQ4370, EV-ADAQ4380, etEV-ADAQ4381
03.25.2025
Évaluation simple des solutions d’acquisition de données μModule ADAQ4380-4, ADAQ4370-4 et ADAQ4381-4.
Texas Instruments Module d’évaluation TIEVM-ARC-AFE
Texas Instruments Module d’évaluation TIEVM-ARC-AFE
03.05.2025
Dispose d’un frontal analogique pour la détection d’arc CC dans les applications solaires basées sur l’IA.
Nisshinbo NA2204NB-EV Evaluation Board
Nisshinbo NA2204NB-EV Evaluation Board
02.26.2025
Designed to evaluate the NA2204 Analog Front End (AFE) with a high-precision 24-bit A-D converter.
Texas Instruments Module d'évaluation DAC121S101SEPEVM
Texas Instruments Module d'évaluation DAC121S101SEPEVM
02.07.2025
Une plateforme facile à utiliser pour démontrer le CNA DAC121S101-SEP.
Texas Instruments Module d'évaluation ADC3664EVMCVAL
Texas Instruments Module d'évaluation ADC3664EVMCVAL
02.07.2025
Démontre les convertisseurs ADC3664-SP à faible bruit et ultra-faible consommation d'énergie.
NXP Semiconductors Carte Arduino Shield AFE à 8 canaux NAFE13388-UIM
NXP Semiconductors Carte Arduino Shield AFE à 8 canaux NAFE13388-UIM
02.06.2025
Évalue les AFE à entrées analogiques multicanaux hautement configurables et de qualité industrielle NAFExx388.
Analog Devices Inc. Carte d'évaluation EVAL-ADAQ4224-FMCZ
Analog Devices Inc. Carte d'évaluation EVAL-ADAQ4224-FMCZ
01.28.2025
Permet une évaluation rapide et facile des performances de la solution d'acquisition de données (DAQ) μModule® ADAQ4224.
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