Carte d'évaluation RD33774ADSTEVB
La carte d'évaluation RD33774ADSTEVB de NXP Semiconductors est une conception de référence d'unité de surveillance de cellules (CMU) distribuée avec une liaison ETPL (Electrical Transport Protocol Link). Cette carte d'évaluation contient un circuit intégré (CI) de contrôleur de cellules de batterie MC33774A dans une configuration Daisy-chain (en guirlande). La carte d'évaluation RD33774ADSTEVB intègre des dispositifs de système en boîtier qui utilisent une technologie à volume élevé. Cette carte d'évaluation prend en charge une large gamme de solutions analogiques, à signaux mixtes et d'alimentation. La carte d'évaluation RD33774ADSTEVB effectue une conversion analogique-numérique sur les tensions et courants différentiels des cellules.
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