RD33774PDSTEVB

NXP Semiconductors
771-RD33774PDSTEVB
RD33774PDSTEVB

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Description :
Outils de développement de circuits intégrés pour la gestion de l'alimentation RD33774PDSTEVB

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NXP
Catégorie du produit: Outils de développement de circuits intégrés pour la gestion de l'alimentation
RoHS:  
Evaluation Boards
Battery Management
MC33774
Marque: NXP Semiconductors
Type d'interface: I2C, SPI
Type de produit: Power Management IC Development Tools
Nombre de pièces de l'usine: 1
Sous-catégorie: Development Tools
Raccourcis pour l'article N°: 935448105598
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Attributs sélectionnés: 0

TARIC:
8473302000
CNHTS:
8543709990
CAHTS:
8473302000
USHTS:
8473301180
MXHTS:
8473300401
ECCN:
EAR99

Carte d'évaluation RD33774PDSTEVB

La carte d'évaluation RD33774PDSTEVB de NXP Semiconductors dispose d'un circuit intégré (CI) de contrôleur de cellules de batterie MC33774ATP qui surveille jusqu'à 18 cellules. Cette carte d'évaluation RD33774PDSTEVB offre un équilibrage passif intégré des cellules jusqu'à 200 mA crête. La carte d'évaluation RD33774PDSTEVB est idéale pour le prototypage rapide du matériel et du logiciel d'un système de gestion de batterie haute tension (HVBMS). Cette carte d'évaluation est utilisée avec un pilote de transformateur de couche physique d'émetteur-récepteur (MC33664) pour convertir les bits de données SPI du microcontrôleur (MCU) en informations de bits d'impulsion et vice versa. Les applications typiques comprennent les dispositifs automobiles et industriels.