Analog Devices Inc. Carte d'évaluation EVAL-AD4857FMCZ AD4857
La carte d’évaluation EVAL-AD4857FMCZ AD4857 d'Analog Devices est conçue pour démontrer les performances du dispositif AD4857 et fournir un accès à de nombreuses options de configuration incluses. Ces options sont accessibles via une interface utilisateur graphique (GUI) simple enfichable ACE. Le dispositif AD4857 est un système d’acquisition de données (DAS) 1 Ms/s 16 bits d’échantillonnage simultané à 8 canaux entièrement tamponné avec des entrées différentielles en mode commun large.Les composants embarqués EVAL-AD4857FMCZ d’Analog Devices comprennent le dispositif de référence de tension de 4,096 V à haute précision, faible dérive LTC6655, un dispositif LT1761, des régulateurs LDO à faible bruit de 1,8 V, 2,5 V et 5 V et le convertisseur Boost à faible courant de repos (IQ) LT8330. Cette carte d’évaluation peut également être utilisée pour évaluer les performances du dispositif AD4855.
Caractéristiques
- Carte d'évaluation complète pour l'AD4857
- Huit canaux d’entrée sont disponibles via des connecteurs SMA
- Circuit de référence embarqué et alimentations
- Capacité autonome via un connecteur FMC et/ou des points d'essai
- Logiciel PC pour le contrôle et l’analyse des données du domaine temps et fréquence
- Compatible ZedBoard
- Compatible avec d’autres cartes de contrôleur FMC
Contenu du kit
- carte d'évaluation EVAL-AD4857FMCZ
- Carte mémoire Micro-SD (avec adaptateur) contenant le logiciel de démarrage de la carte système et le système d'exploitation Linux
Équipement nécessaire
- PC exécutant le système d’exploitation Windows® 10 ou supérieur
- Digilent ZedBoard avec adaptateur mural de 12 V
- Source de signaux de précision
- Câbles SMA (entrées vers carte d’évaluation)
- Câble USB
- Logiciel d'analyse, contrôle et évaluation (ACE)
- Plug-in ACE AD4857 à partir du gestionnaire de plug-in
Applications
- Équipement de test automatique
- Avionique et aérospatiale
- Instrumentation et systèmes de contrôle
- Fabrication de dispositifs semiconducteurs
- Test et mesure
Disposition de la carte
Publié le: 2024-10-09
| Mis à jour le: 2024-10-23
