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NV25040DWVLT3G

Name: onsemi NV25040DWVLT3G
Brand: onsemi
SKU: 863-NV25040DWVLT3G
Price: 0.69 EUR
Availability: InStock

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N° Mouser :

863-NV25040DWVLT3G

N° de fab. :

NV25040DWVLT3G

Fab. :

onsemi

Description :

EEPROM 4KB SPI SER CMOS EEPROM FOR VCC=1.7V

Cycle de vie:

Nouveau produit:

Nouveau chez ce fabricant.

Fiche technique:

NV25040DWVLT3G Fiche technique (PDF)

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	0,601 €	60,10 €
	0,583 €	145,75 €
	0,569 €	284,50 €
	0,564 €	564,00 €
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	0,452 €	1.356,00 €

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Attribut de produit	Valeur d'attribut	Sélectionner l'attribut
Fabricant:	onsemi
Catégorie du produit:	EEPROM
RoHS:
Taille de la mémoire:	4 kbit
Type d'interface:	SPI
Fréquence de l'horloge max.:	20 MHz
Organisation:	512 x 8
Package/Boîte:	SOIC-8
Tension d’alimentation - Min.:	1.7 V
Tension d’alimentation - Max.:	5.5 V
Style de montage:	SMD/SMT
Rétention des données:	200 Year
Température de fonctionnement min.:	- 40 C
Température de fonctionnement max.:	+ 125 C
Série:	NV25040LV
Conditionnement:	Reel
Conditionnement:	Cut Tape
Courant de lecture actif maximal:	2 mA
Marque:	onsemi
Courant d'alimentation de fonctionnement:	2 mA
Type de produit:	EEPROM
Nombre de pièces de l'usine:	3000
Sous-catégorie:	Memory & Data Storage

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Fiche technique

NV25040DWVLT3G Fiche technique (PDF)

Material Composition Disclosure

TARIC:: 8542327500
USHTS:: 8542320051
ECCN:: EAR99

EEPROM série basse tension automobiles NV250x0LV

Les EEPROM série de qualité automobile 1, basse tension NV250x0LV d'onsemi sont des appareils SPI EEPROM série 1 Ko, 2 Ko et 4 Ko organisés en interne en 128x8, 256x8 et 512x8 bits. Les composants NV250x0LV d'onsemi sont dotes d'un tampon d'écriture de page de 16 octets et prennent en charge le protocole SPI (Interface périphérique série). Les EEPROM NV250x0LV sont dotés d'une protection contre l'écriture logicielle et matérielle, ainsi que d'une protection partielle et complète de la matrice. Une page d'identification supplémentaire peut être protégée en permanence contre l'écriture. Ces protections rendent ces composants fiables pour le stockage des données d'étalonnage et de configuration critiques dans les systèmes automobiles.