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TMCS1123AEVM

Name: Texas Instruments TMCS1123AEVM
Brand: Texas Instruments
SKU: 595-TMCS1123AEVM
Price: 55.89 EUR
Availability: OutOfStock

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N° Mouser :

595-TMCS1123AEVM

N° de fab. :

TMCS1123AEVM

Fab. :

Texas Instruments

Description :

Outils de développement de circuits intégrés d'amplificateurs EVM FOR A VERSIONS O F TMCS1123 DISC-BY-

Fiche technique:

TMCS1123AEVM Fiche technique (PDF)

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Attribut de produit	Valeur d'attribut	Sélectionner l'attribut
Fabricant:	Texas Instruments
Catégorie du produit:	Outils de développement de circuits intégrés d'amplificateurs
Produit:	Evaluation Modules
Type:	Current Sense
L'outil sert à l'évaluation de:	TMCS1123A
Marque:	Texas Instruments
Type d'interface:	SPI
Type de produit:	Amplifier IC Development Tools
Nombre de pièces de l'usine:	1
Sous-catégorie:	Development Tools

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Fiche technique

TMCS1123AEVM Fiche technique (PDF)

EU Declaration of Conformity (PDF)

Codes de conformité

TARIC:: 9030820000
CAHTS:: 9030820000
USHTS:: 9030820000
KRHTS:: 9030820000
MXHTS:: 9030820100
ECCN:: EAR99

Classifications d’origine

Pays d'origine:: États-Unis
Pays d'origine de l'assemblage:: Non disponible
Pays de diffusion:: Non disponible

Le pays est susceptible de changer au moment de l’expédition.

Modules d'évaluation TMCS1123xEVM

Les modules d'évaluation (EVM) de Texas Instruments TMCS1123xEVM sont conçus pour accélérer l'utilisation des capteurs de courant de précision à effet Hall isolés TMCS1123 à l'aide d'une référence ratiométrique interne. Ces cartes d'évaluation permettent au concepteur de pousser le courant de fonctionnement maximum à travers l'entrée Hall tout en mesurant la sortie isolée à travers une barrière d'isolation renforcée. Les modules d'évaluation TMCS1123xEVM sont constitués d'un seul circuit imprimé, divisible en cinq parties. Cela permet à l'utilisateur de tester toutes les variations de sensibilité d'un seul point de repos (A = 0,5 V_s, B = 0,33 V_s ou C = 0,1 V_s). La disposition du dispositif n’est pas destinée à servir de modèle pour le circuit cible, ni à être conçue pour les tests de compatibilité électromagnétique (CEM).